시험기기 명

용도

사양 및 형식

허용오차

제작처

설치일자

검교정 주기

비고

사출1호기

COLOR 시편
제작(검사용)

IDE 75EN Ⅱ

-

LG 전선

2010. 04.

2년

MOLD PRESS

PAN CAKE
제작용

Press-A01

온도 ±5℃

陽川 기계

2010. 04.

2년

MFI

유동성 측정용

MFI-9

온도 ±1℃
하중 ±0.5%

AMETEK

2010. 04.

1년

전기로

ASH 측정

1250℃

±1℃

Roform
전기기기

2010. 04.

1년

수분 측정기

수분 함량

MAX 51g

± 0.01%

A&D

2010. 04.

1년

DRY OVEN

시료 건조

상온 ~ 300℃

±1℃

Lab

2008. 01.

-

VERNIER
CALIPER

시편 규격 확인

0~150mm

± 0.01%

Mltutoyo(일본)

2010. 04.

-

분광측색계

색상 관리용

CM-3500d

파장범위:20mm

Minolta

2011. 02.

1년

시험기기 명

용도

사양 및 형식

허용오차

제작처

설치일자

검교정 주기

비고

전기로

ASH 측정

1250℃

1℃

동서과학

2010. 08.

1년

UTM

인장,신율,굴곡

LR10K-Plus

± 0.5%

LLOYD(미국)

2011. 03.

1년

Flammability
Tester

난연성 시험

SMC-006

-

SMT

2011. 03.

-

비중계

비중 측정

MD-300S

0.01

MIRAJE(일본)

2011. 03.

1년

표준광원기

색상 관리용

SUPER LIGHT
-V1

-

BO-TECK

2011. 04.

-

노칭머신

충격시편 제작

QM700N

0.01mm

큐머시스

2020. 03.

1년

전기식
지시저울

무게 정밀측정

AR3130

무게 ±0.001g

OHAUS/USA

2010. 01.

1년

시험기기 명

용도

사양 및 형식

허용오차

제작처

설치일자

검교정 주기

비고

HDT

열 변형온도
/연화점

TINIUS OLSEN

온도 ±5℃

TINIUS OLSEN

2011. 04.

1년

사출2호기

COLOR 시편
제작 (개발용)

IS55-EPM

-

TOSHIBA

2012.01

2년

적외선온도계

시편 온도 측정

SK-8700Ⅱ

650nm
1mW이하

SATO(日)

2012.01.

1년

버니어
캘리퍼스

시편 치수 측정

CD-15PC

0.01MM

Mitutoyo(日)

2012.01

1년

광택계

광택측정용

YG-F

1%

CAS(日)

2012.2

1DAY

전자저울
(1/10000)

정밀 계량용

BP-221S

0.0001g

Sartorius(獨)

2012.2

1년

경도계

경도 측정용

TS180D

±0.5

MT Teck

2012.07

1년

XRF분석기

재료 성분 분석

DC-2000

-

OLYMPUS

2013.03

3년